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        產品詳情
        • 產品名稱:非球面輪廓儀

        • 產品型號:Form Talysurf PGI Optics
        • 產品廠商:英國TAYLOR HOBSON
        • 產品文檔:
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        簡單介紹:
        Form Talysurf PGI Optics 鏡頭測量的準確性和多樣性的標桿。測量球面、非球面輪廓和衍射,結果值得信賴。 *新的測量儀設計,改進了測量距離—*遠可達28mm *新的擺動裝置長度可達300mm, 可用于連續測量 *快速、簡單的校準程序可以通過定期的儀器校準實現良好的計量操作
        詳情介紹:

        Form Talysurf PGI Optics

        用于精密光學元件的*高精度測量儀器

        自從1984年**發布以來,Form Taylsurf迅速成為測量非球面形狀誤差的光學制造商的優選。

        從那以后,我們在全球范圍內安裝了數千臺儀器,使得Talysurf PGI成為真正的行業標準。

        我們的磚利PGI(相位光柵干涉儀)技術使您能夠利用短測針測量大尺寸凹透鏡,實現*高精度的測量。

        Taylor Hobson制造的這些觸針具有高剛度和低力度雙重優勢,與同類產品相比,帶來更佳的精度和重復性。

        *容易編程

        *一鍵測量

        *快速、**

        *針對生產環境設計

        *強大的分析工具提高您的產能和生產率

        *省時的軟件功能

        *自動化軟件程序帶來可重復的高精度測量

        *致力于光學計量

        *新的寬量程測量儀:可測量大尺寸凹透鏡,精度保持不變

         

        測量儀量程:14 / 28mm

        系統噪聲:   <2nm Rq        

        測量:     直徑可達300mm(單軌跡測量)

        形狀誤差:  <100nm

        *60mm/120mm觸針

         

        致力于光學計量

        滿足下一代光學元件不斷增長的需求

        深入的非球面衍射分析:

        *輕松分析超過500個區帶的復雜衍射

        *通過與設計直接對比來識別區帶直徑

        *輸出衍射形狀誤差用于刀具路徑校正

         

        快速X偏移校正的獨特解決方案:

        *顯著縮短SPDT設置時間

        *X偏移和形狀誤差可通過單一分析校正

        *提高速度,節省時間

         

        大直徑光學元件:

        *技術優越的單軌跡測量,長度可達300mm

        *在300mm的全長內達到上等的平直度

        *SAG>28mm

         

        散光分析:

        *易于編程,使用程序來判定部件中是否存在散光

        *輸出平均輪廓用于刀具路徑校正

        *三維殘余表面生成,帶來先進的更正

         

        配件:

        自動化機動工作臺保證精度:

        *增加Y和/或旋轉式機動工作臺,與一個精密的傾斜中央工作臺配合使用

        *輕松編寫程序為單個或多個徑向軌跡測量提供選項

        *自動化散光分析—結合多個徑向軌跡測量來查看散光

        *確保多個不同的操作員使用時也能獲得一致的**測量。

         

        Form Talysurf PGI Matrix

        全自動化的快速、**的系統用于批量光學元件測量

        易于安裝、測試和分析單個或多個部件,使其成為快速、準確測試光學元件的理想系統。

        Form Talysurf PGI Matrix的增強功能和軟件架構支持移動設備鏡頭、眼科透鏡、醫療和光纖、高功率LED和晶片透鏡陣列的高速測量

        提高測量一致性和準確性,同時縮短測量循環時間。Form Talysurf PGI Matrix提供一站式解決方案。

        *容易編程

        *簡單易用

        *超快速

        *全自動

        *專門針對生產環境

        *Form Talysurf PGI Matrix包含一個高精度旋轉式Y軸臺用于**、自動化的部件定位。

         

        測量儀量程:28mm

        噪聲:      <4nm Rq 

        測量:     單一或多部件測量

        形狀誤差:  <100nm

         

        針對生產環境設計:

        節省時間和**,不會損失精度

        簡單的復雜陣列設置、測量和分析:

        *選擇部件設計來定義陣列布局。

        —低密度、PCD、晶片等

        *輕松選擇測量和分析數據的格式,可以選擇將結果存儲在選擇的位置

        *選擇存儲結果的位置

        *選擇要測量的“批”

        *有關測量通過/失敗的實時反饋,并提供清晰的指示

        *自動分析顯示批結果統計

        —允許瀏覽單個部件結果

        *定義完整的脫機測量并傳輸到儀器進行測量

        *只需傳輸結果文件夾便可脫機查看和重新分析已完成的測量。

         連續測量

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        滬公網安備 31011502007567號

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